首先來(lái)看一下當(dāng)前數(shù)據(jù)中心的情況，10G已經(jīng)不是什么新鮮事物了，而介質(zhì)這塊，銅纜雙絞線也開始6A化，光纖也逐步升級(jí)，而數(shù)據(jù)中心里的大部分光纖鏈路都小于200米，這使得基于VCSEL的850nm光收發(fā)器可以被大量使用，配合OM3光纖，光纖方案的成本更為降低，也使OM3成為萬(wàn)兆速率數(shù)據(jù)中心的首選。

      OM3光纖（MM50 um MBW=2000），在同樣插入損耗的情況下，與OM2 和OM1光纖相比，OM3光纖的傳輸距離可以更遠(yuǎn)。而通道最大距離與模式帶寬和通道最大插入損耗相關(guān)。例如，對(duì)于一個(gè)使用850nm OM3光纖的300米10GBase-SR鏈路而言，所能被允許的最大插入損耗是2.6分貝，而在1000BASE-SX網(wǎng)絡(luò)中則為3.56分貝，可以預(yù)見隨著速率不斷提升，損耗這塊的要求也越來(lái)越高了。而即使是在這2.6分貝的最大允許損耗中，也被分為光纖本身所固有的損耗，以及光纖連接和連接器損耗。

    伴隨數(shù)據(jù)中心TIA-942推行的結(jié)構(gòu)化光布線系統(tǒng)的發(fā)展，在帶來(lái)靈活易用的同時(shí)，也對(duì)光纖測(cè)試帶來(lái)了新的內(nèi)容，引入的結(jié)構(gòu)化布線，增加了連接器件，對(duì)接頭連接器的插入損耗有了更高的要求。

    那么下面先來(lái)談一下數(shù)據(jù)中心短光纖的測(cè)試面臨的新的問題：

    從目前光纖鏈路的測(cè)試來(lái)看，主要分成兩個(gè)等級(jí)，第一等級(jí)為OLTS測(cè)試，第二等級(jí)為OTDR測(cè)試；從實(shí)際驗(yàn)收來(lái)看更多的采用的是OLTS測(cè)試，即光源和光表的測(cè)試方式，其原因除了測(cè)試設(shè)備相對(duì)價(jià)格低廉有關(guān)外，也和其使用簡(jiǎn)易程度有關(guān)，相對(duì)來(lái)說(shuō)，使用第二級(jí)別的OTDR測(cè)試儀需要更專業(yè)的知識(shí)，需要讀懂OTDR的曲線圖，并且判定故障原因，這絕非簡(jiǎn)單培訓(xùn)就可以上手的工作。

    另外，不論部署結(jié)構(gòu)化光布線網(wǎng)絡(luò)，還是模塊化高密度MPO方案時(shí)，多模光纖都被大量運(yùn)用，此時(shí)用光纖元件標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試通過(guò)，而用應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試則不一定過(guò)，兩類標(biāo)準(zhǔn)門限值有所不同，測(cè)試時(shí)選標(biāo)準(zhǔn)不當(dāng)，也會(huì)給后續(xù)網(wǎng)絡(luò)運(yùn)行埋下故障隱患。

      不僅如此，在選用OTDR（Optical Time Domain Reflectometer,簡(jiǎn)稱OTDR）測(cè)試儀時(shí)，死區(qū)的問題也是不能忽略的一大問題，OTDR的死區(qū)分為事件死區(qū)和衰減死區(qū)，事件死區(qū)代表OTDR所能檢測(cè)到的光纜的最短長(zhǎng)度。死區(qū)越短，可檢測(cè)到的光纜長(zhǎng)度就越短。如果事件死區(qū)比被測(cè)的光纜長(zhǎng)度要短，那么就可以使用OTDR來(lái)測(cè)試這條鏈路。而衰減死區(qū)一般要大于事件死區(qū)，它的定義是可以測(cè)得的連續(xù)兩個(gè)事件插入損耗數(shù)值的最小距離。

數(shù)據(jù)中心內(nèi)網(wǎng)絡(luò)的光纜鏈路通常都非常短，同時(shí)通道里還會(huì)有多個(gè)連接器和短的跳線。在進(jìn)行光纜測(cè)試時(shí)，應(yīng)該使用具有短事件死區(qū)和衰減死區(qū)的OTDR測(cè)試儀。

      例如，假設(shè)正在測(cè)試的光纜鏈路包含一根三米長(zhǎng)的跳線，如果你的OTDR事件死區(qū)指標(biāo)為5米，OTDR 將會(huì)只檢測(cè)到跳線的起始端，而檢測(cè)不到終點(diǎn)。如果您使用的OTDR 事件死區(qū)為2 米，您就可以同時(shí)看到跳線的兩端。這時(shí)你就可以正確地測(cè)量鏈路中安裝的跳線的長(zhǎng)度并進(jìn)行文檔備案。

    針對(duì)上述數(shù)據(jù)中心短光纖鏈路測(cè)試中的問題，那么具體如何進(jìn)行測(cè)試呢？

    建議可以按如下幾個(gè)原則進(jìn)行測(cè)試：

1.用OLTS（Optical Loss Test Set，簡(jiǎn)寫OLTS）光源、光表測(cè)量鏈路損耗，用OTDR測(cè)量長(zhǎng)度。由于使用光源、光表測(cè)量鏈路損耗接近于標(biāo)準(zhǔn)損耗測(cè)量方法，非常接近真實(shí)網(wǎng)絡(luò)運(yùn)行狀況，所以損耗測(cè)量精度可以得到保障。而單單通過(guò)OTDR測(cè)試儀進(jìn)行損耗測(cè)試，因?yàn)樵砩纤墙柚鷾y(cè)量背向瑞利散射光，距離越遠(yuǎn)，測(cè)量精度越難以保障。而在OTDR測(cè)
試儀的量程選擇上也非越大越好，一般選為被測(cè)光纖長(zhǎng)度的兩倍以上，如設(shè)置太大，會(huì)增加測(cè)試時(shí)間，并會(huì)增加測(cè)量誤差。脈寬選擇也需要做限制，寬脈沖發(fā)射光功
率大，測(cè)的距離遠(yuǎn)，信噪比好，但測(cè)距空間分辨率低；而窄脈沖信噪比差，測(cè)距空間分辨率高，因此，一般測(cè)短距離光纖選窄脈沖，長(zhǎng)距離時(shí)才選寬脈沖。

2. OLTS測(cè)試時(shí)，使用卷軸，如圖2顯示，這樣在實(shí)際測(cè)試是，可以濾除高次模，提高測(cè)試穩(wěn)定性，避免測(cè)試結(jié)果出現(xiàn)時(shí)大時(shí)小，不穩(wěn)定的狀況，當(dāng)然測(cè)試前需要在做基準(zhǔn)設(shè)置時(shí)，就連入卷軸。

3. 在OTDR測(cè)試時(shí)引入補(bǔ)償光纖。所謂補(bǔ)償光纖就是在被測(cè)鏈路前人為加入一段光纖，最好100米以上。在光纖鏈路較短時(shí)，OTDR測(cè)量到曲線具有一定的波動(dòng)性，引入補(bǔ)償光纖，人為增加了長(zhǎng)度，減小測(cè)試的波動(dòng)性，另外額外的好處是，測(cè)試事件信息是以發(fā)射補(bǔ)償光纖末端作為起點(diǎn)，這樣可以看到0米出的插入損耗情況。

4. OTDR測(cè)量曲線重點(diǎn)作為排除鏈路障礙用。短光纖測(cè)量中，OTDR測(cè)量曲線僅作為參考。OTDR更多的任務(wù)用于定位故障，如連接器的連接質(zhì)量如何，熔接點(diǎn)的熔接質(zhì)量，光纖微彎是否過(guò)度等。
    綜上所述，數(shù)據(jù)中心短光纖的測(cè)試，最好以兩種測(cè)試方法相輔助的方式進(jìn)行，既測(cè)試通道的總損耗，也測(cè)試基于事件的長(zhǎng)度分布地圖。當(dāng)然對(duì)于短光纖盡可能采用分辨率精度等級(jí)更高的光功率計(jì)，以降低誤差。如今，F(xiàn)luke網(wǎng)絡(luò)公司的OptiFiber測(cè)試儀正是該類測(cè)試的首選，集損耗測(cè)試，OTDR測(cè)試于一體，可以輕松勝任數(shù)據(jù)中短鏈路光纖的測(cè)試。