光纖是由玻璃纖維構(gòu)成，光脈沖信號在其中傳輸?shù)臅r候不可避免的會產(chǎn)生自然損耗，甚至在質(zhì)量較差的網(wǎng)絡(luò)中還存在著附加損耗。那么如何去評定已經(jīng)安裝完成的光纖網(wǎng)絡(luò)的質(zhì)量呢？早期是通過測試鏈路中總的衰減來評估，總的衰減包括光纖連接頭、光纖連接器插座（也就是耦合器）、熔接點(diǎn)還有光纖本身的損耗，大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)還規(guī)定了鏈路的長度，以上這些共同構(gòu)成了光纖一級測試。
后來隨著光纖網(wǎng)絡(luò)帶寬的不斷升級，在光纖一級測試的基礎(chǔ)上又形成了光纖二級測試，增加了OTDR用來判定每個連接器和連接點(diǎn)還有光纖本身的質(zhì)量。

一、光纖測試參照標(biāo)準(zhǔn)
在國際標(biāo)準(zhǔn)IEC 61746、TIA/EIA TSB-107等標(biāo)準(zhǔn)中對光纖測試如光功率，OTDR等做了明確的規(guī)定，布線系統(tǒng)測試可以參照這些標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行：
《GB 50312-2007綜合布線工程驗(yàn)收規(guī)范（含條文說明）》
《IEC 61350 功率計校準(zhǔn)》
《IEC 61746 OTDR校準(zhǔn)》
《G.650.1 單模光纖與光纜的線性、確定性屬性的定義與測試方法》
《G.650.2 單模光纖與光纜的統(tǒng)計與非線性屬性的定義與測試方法》
《IEC 60793》
《TIA/EIA TSB-107》
《TIA/EIA FOTP-169》

二、光纖測試中幾點(diǎn)說明
1、盲區(qū)

在光纖測試過程中，在存在強(qiáng)反射時，使得光電二極管飽和，光電二極管需要一定的時間由飽和狀態(tài)中恢復(fù)，在這一時間內(nèi)，它將不會精確地檢測后散射信號，在這一過程中沒有被確定的光纖長度稱為盲區(qū)。

2、國家標(biāo)準(zhǔn)《GB 50312-2007綜合布線工程驗(yàn)收規(guī)范（含條文說明）》中對光纖測試極限值的規(guī)定：

光纖鏈路的插入損耗極限值可用以下公式計算：

光纖鏈路損耗=光纖損耗+轉(zhuǎn)接器損耗+光纖連接點(diǎn)損耗

光纖損耗=光纖損耗系數(shù)（dB/km）×光纖長度(km)

連接器件損耗=連接器件損耗/個×連接器件個數(shù)

光纖連接點(diǎn)損耗=光纖連接點(diǎn)損耗/個×光纖連接點(diǎn)個數(shù)

3、典型的OTDR軌跡圖